特許
J-GLOBAL ID:200903050864991087

光パワー検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 五十嵐 清
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-063443
公開番号(公開出願番号):特開平8-234256
出願日: 1995年02月27日
公開日(公表日): 1996年09月13日
要約:
【要約】【目的】 雑音等の影響を殆ど受けることなく正確に伝送光の光強度を検出する。【構成】 それぞれに段階的に異なる閾値を与えて、この与えた第1の閾値以下の光強度の伝送光を吸収し、第1の閾値よりも大きい第2の閾値以上の光強度の伝送光を通過させる過飽和吸収体1〜4を光ファイバ8に直列に配設し、光ファイバ8を伝送する伝送光が各過飽和吸収体1〜4に順に入射するときに伝送光(A)と交差するようにプローブ光源5からのプローブ光を各過飽和吸収体1〜4に入射させる。各過飽和吸収体1〜4に対応させてアバランシェホトダイオード(APD)11〜14を設け、伝送光が過飽和吸収体1〜4を通過することによるプローブ光の過飽和吸収体1〜4を介しての受光をAPD11〜14により行い、このプローブ光受光の有無を強度読み出し手段6により検出して伝送光の通過と非通過の過飽和吸収体1〜4を識別し、伝送光の光強度を読み出す。
請求項(抜粋):
第1の閾値以下の光強度の伝送光を吸収し、該第1の閾値よりも大きい第2の閾値以上の光強度の伝送光を通過させる複数の過飽和吸収体がそれぞれに段階的に異なる閾値を与えられて光伝送路に直列に配設されており、伝送光が光伝送路を伝搬して各過飽和吸収体に順に入射するときに伝送光と交差するように各過飽和吸収体にそれぞれプローブ光を入射させるプローブ光源を設け、前記伝送光が過飽和吸収体を通過することによるプローブ光源からのプローブ光の過飽和吸収体を介しての受光と、伝送光が過飽和吸収体に吸収されることによるプローブ光源からのプローブ光の非受光とを行うプローブ受光部を各過飽和吸収体に対応させて設け、該プローブ受光部によるプローブ光受光の有無を各過飽和吸収体に対応させて検出することにより前記伝送光の通過と非通過の過飽和吸収体を識別し、伝送光の光強度を読み出す強度読み出し手段が設けられていることを特徴とする光パワー検出装置。
IPC (3件):
G02F 2/00 ,  H04B 10/02 ,  H04B 10/18
FI (2件):
G02F 2/00 ,  H04B 9/00 M

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