特許
J-GLOBAL ID:200903050865677041

薄膜トランジスタ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 内原 晋
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-250780
公開番号(公開出願番号):特開平5-090586
出願日: 1991年09月30日
公開日(公表日): 1993年04月09日
要約:
【要約】【目的】薄膜トランジスタのリーク電流を低減し、駆動電流を増大する。【構成】シリコン基板1に酸化シリコン膜2を形成したのち、ポリシリコンを堆積する。つぎにゲ-ト酸化膜7を堆積したのち、チャネルイオン注入を行なってN- 型チャネル領域6を形成する。つぎにゲート電極8を形成し、フォトレジスト(図示せず)をマスクとしてイオン注入してソース3およびドレイン4を形成する。このときドレイン4側にドレインオフセットLを設ける。つぎに層間絶縁膜9を堆積したのち、ドレイン4の一部、ドレインオフセットL、ゲート電極8とオーバーラップするように、上層サブゲート10を形成する。さらに酸化シリコン膜2に下層サブゲート11を設けることもできる。
請求項(抜粋):
MOS型薄膜トランジスタのゲート電極側とチャネル層側との少なくとも一方に、絶縁膜を隔ててサブゲート電極が形成された薄膜トランジスタ。
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平2-210871
  • 特開昭62-254465

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