特許
J-GLOBAL ID：200903050922139035
結晶性高分子の結晶構造検査法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-107151
公開番号（公開出願番号）：特開平10-300748
出願日： 1997年04月24日
公開日（公表日）： 1998年11月13日
要約：
【要約】【課題】結晶性高分子の結晶構造を、測定個所の結晶構造を損なわず、かつ試料の形状に左右されず、非破壊的に測定する方法を確立すること。【解決手段】結晶性高分子に蛍光物質を埋設し、該蛍光物質の蛍光寿命を測定することにより、被測定用高分子の結晶構造を検査する結晶性高分子の結晶構造検査法。標準値との比較により簡便に検査できる。
請求項（抜粋）：
結晶性高分子の結晶構造を非破壊的な手段で検出する検査法であって、被測定用高分子に蛍光物質を埋設し、該蛍光物質の蛍光寿命を測定することにより被測定用高分子の結晶構造を検査することを特徴とする結晶性高分子の結晶構造検査法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 33/44
, G01N 21/64 B
