特許

J-GLOBAL ID：200903050947646284

検査装置における画像処理方法及び装置

発明者： 渡貫 明男
出願人/特許権者： 日立電子株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-324298
公開番号（公開出願番号）：特開平8-181974
出願日： 1994年12月27日
公開日（公表日）： 1996年07月12日
要約：

【要約】【目的】 本発明は例えばプリント基板上のパターン欠陥をX線等を照射して撮像した画像から、自動検出する画像処理装置において、X線等の光量変化に対して、安定にパターンの欠陥を検出することを目的とする。【構成】 本発明は上記の目的を達成するために、1画面分の画像データの中から、最大値を求め、その最大値が設定された基準値となるような、補正係数を画像データに乗じることによって、各画面毎の画像データの最大値が一定の基準値となるように常に補正されるため、X線等の光量変化に対して、画像レベルを安定化する。

請求項（抜粋）：

被検査体から得られた画像を処理し該被検査体の検査を行う検査機における画像処理装置において、被検査体から得られた画像データの中から、最大値を求め、該最大値があらかじめ設定された基準値となるような、補正係数を前記画像データに乗じることを特徴とする画像処理方法。

IPC (5件)：

H04N 7/18 ,  G01N 23/04 ,  G06T 5/00 ,  H05K 13/04 ,  G06T 7/00

FI (2件)：

G06F 15/68 310 J ,  G06F 15/62 405 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平2-058414
  
• 検査補助装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-078511   出願人：大日本印刷株式会社
• 特開平2-058414
  
• 特開平2-058414