特許
J-GLOBAL ID：200903050952554495
表面増強振動分光分析用プローブおよびその製造方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
山下 穣平
, 永井 道雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-128271
公開番号（公開出願番号）：特開2008-281530
出願日： 2007年05月14日
公開日（公表日）： 2008年11月20日
要約：
【課題】試料に損傷を与えない程度の強さのレーザー光に対しても優れた検出感度を有し、かつ長寿命である表面増強振動分光分析用プローブおよびその製造方法を提供する。【解決手段】表面増強振動分光分析用プローブであって、該プローブはカンチレバーに形成されており、該プローブの内部には複数の金属微粒子が分散しており、かつ該プローブの表面に複数の該金属微粒子が露出していることを特徴とする表面増強振動分光分析用プローブ。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
表面増強振動分光分析用プローブであって、
該プローブはカンチレバーに形成されており、該プローブの内部には複数の金属微粒子が分散しており、かつ該プローブの表面に複数の該金属微粒子が露出していることを特徴とする表面増強振動分光分析用プローブ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (15件)：
2G043AA03
, 2G043CA05
, 2G043EA03
, 2G043GA04
, 2G043GB02
, 2G043GB05
, 2G043HA01
, 2G043JA01
, 2G043LA03
, 2G059AA02
, 2G059AA05
, 2G059BB20
, 2G059EE03
, 2G059GG01
, 2G059KK04
出願人引用 (1件)
審査官引用 (7件)
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