感光体表面の静電潜像の測定方法及び電子写真方法及び電子写真装置

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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：世良和信 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-366533
公開番号（公開出願番号）：特開平11-184189
出願日： 1997年12月24日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：

【要約】【課題】感光体表面に形成された静電潜像の電位分布、例えばデジタル潜像の1ドットの電位形状を、精度良く測定を行うことを可能とすること、また、静電潜像の状態に応じて各電子写真工程を制御することで、高品位な画像を形成することの可能な電子写真方法及び電子写真装置を提供する。【解決手段】静電潜像が形成された感光体表面102に対し近接して相対移動を行い、該感光体表面102の静電潜像の電位変化により誘導電流を発生する電位センサ103により、感光体表面102に形成された静電潜像を測定する測定方法であって、前記電位センサ103は、シールド104を備えることにより感光体表面102に対向する面以外から誘導電流を受けない検出部を備え、前記電位センサ103により検出した誘導電流を積分解析することにより、感光体表面102の静電潜像の電位状態を求める。

請求項（抜粋）：

【請求項1 】静電潜像が形成された感光体表面に対し近接して相対移動を行い、該感光体表面の静電潜像の電位変化により誘導電流を発生する電位センサにより、感光体表面に形成された静電潜像を測定する測定方法であって、前記電位センサの検出部は、前記感光体表面との相対移動方向の幅が測定する静電潜像の電位変化の幅よりも小さく設定された該感光体表面と対向する面と、この対向する面以外から誘導電流を受けないように該対向する面を残して検出部をシールドするシールド手段とを有し、前記電位センサにより検出した誘導電流を積分解析することにより、感光体表面の静電潜像の電位状態を求めることを特徴とする感光体表面の静電潜像の測定方法。

IPC (4件)：

G03G 15/00 303 , G03G 15/043 , G03G 15/04 , G03G 21/00 502

FI (3件)：

G03G 15/00 303 , G03G 21/00 502 , G03G 15/04 120

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平3-296073
特開昭54-067475
特開昭60-195578

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