特許
J-GLOBAL ID：200903050996304020
粘度測定方法および測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-243541
公開番号（公開出願番号）：特開2004-085242
出願日： 2002年08月23日
公開日（公表日）： 2004年03月18日
要約：
【課題】測定者に負担をかけず、測定精度の向上と測定時間の短縮を可能とするレーザトラッピング法を用いた粘度測定方法および測定装置を提供すること。【解決手段】本発明の粘度測定装置は、測定対象中に分散した粒子にレーザを集光照射して該粒子を集光照射位置にトラップするレーザトラップ手段1と、トラップされた粒子に抵抗力を作用させる駆動手段4、4’、8と、該トラップされた粒子の該集光照射位置からの変位を検出する変位検出手段5、5’と、集光照射位置及び変位検出手段5、5’の相対位置関係を固定する相対位置固定手段7と、を具備することを特徴とする。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
粒子を分散した測定対象中にレーザトラップ手段によりレーザを集光照射して該粒子をレーザトラップ力で集光照射位置にトラップし、駆動手段により該トラップされた粒子に抵抗力を作用させ、変位検出手段により該トラップされた粒子の該集光照射位置からの変位を検出することで該測定対象の粘度を測定する粘度測定方法において、
前記レーザトラップ手段により前記粒子がトラップされる前記集光照射位置と前記変位検出手段との相対位置関係を固定した状態で前記駆動手段により前記トラップされた粒子に抵抗力を作用させることを特徴とする粘度測定方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01N11/00 A
, G01N11/00 C
