特許
J-GLOBAL ID：200903051046461230
光波形計測装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-195907
公開番号（公開出願番号）：特開平11-037851
出願日： 1997年07月22日
公開日（公表日）： 1999年02月12日
要約：
【要約】【課題】 構成が簡単で計数率が高く高精度の測定が可能な光波形計測装置を提供する。【解決手段】 被測定光源1から出力された所定の繰り返し周期Tを有する被測定光の光子は、HPD等からなる光検出器2に入射され、電気パルスに変換される。この電気パルスは、プリアンプ3を経て、多値化処理回路4へ送られる。多値化処理回路4は、この信号を予め設定された1つあるいは複数のしきい値と比較して、それぞれのしきい値を超えている間対応して設けられた出力端から所定のパルス信号を出力する。同期回路8で繰り返し周期Tに同期された演算部5は、このパルス信号に基づいて光子数を判定し、周期Tをnチャンネルの時間領域に分割したメモリ部6の対応する時間領域に蓄積記憶させる。波形出力装置7は、メモリ部6に記憶された情報を読み出して被測定光の光波形を再構成する。
請求項（抜粋）：
所定の繰り返し周期を有する被測定光の光強度の時間変化を表す光波形を計測する光波形計測装置において、前記被測定光の一部が入射され、光子の到達に対応して短パルス信号を出力し、前記短パルス信号のパルス幅は前記繰り返し周期より十分に短く、その電荷量は1個以上の略同時に到達した光子数に対応している光検出器と、前記短パルス信号を電圧信号に変換するプリアンプと、前記プリアンプの出力電圧を1つあるいは複数の予め設定されたしきい値と比較して、それぞれのしきい値を超えている間、それぞれのしきい値に対応して設けられた出力端から所定のパルス信号を出力することにより、電圧信号を多値化処理する多値化処理回路と、前記所定の繰り返し周期を細分化した時間領域に対応して個別に設けられた複数の記憶領域を備えるメモリ部と、前記細分化された時間領域のそれぞれの領域ごとに、前記多値化処理回路の複数の出力信号を基に同一の時間領域内で検出された光子数を算出する演算処理を行い、計算した光子数を前記メモリ部の対応する記憶領域に蓄積記憶させる演算部と、前記メモリ部の各記憶領域に蓄積された検出光子の総数を前記時間領域ごとに順次読み出して統計処理することにより、前記被測定光の光波形を再現して出力する光波形出力部と、を備えることを特徴とする光波形計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01J 11/00
, G01N 21/64 Z
