特許
J-GLOBAL ID：200903051054283830
半導体デバイスシミュレータ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田澤 博昭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-253638
公開番号（公開出願番号）：特開平6-083803
出願日： 1992年08月31日
公開日（公表日）： 1994年03月25日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、特性への要求が多様な半導体デバイスを、より少ないコストで最適設計できる半導体デバイスシミュレータを提供することを目的とする。【構成】 本発明の半導体デバイスシミュレータにおいては、半導体デバイスの複数の特性を変数としてコスト関数を定義する。こうすると、コスト関数の最小点は最適構造に対応する。この最小点は統計的な手法により求められる。すなわち、任意の初期構造に微少変動を与え、コストが減少する方向への変化は許し、増加する方向への変化はその増加分に依存した確率で許す。この作業を繰り返せば、最適構造に収束する。この過程での構造変動は乱数で与えるため、すべての作業は自動で実行される。
請求項（抜粋）：
一組の半導体デバイス構造パラメータの値に対して一意に定まるデバイス特性がその指定された要求を満たすほど値が小さくなるようなコスト関数を定義するコスト関数定義手段と、前記構造パラメータについて任意の初期値から始めてランダムに構造パラメータを更新しながらコスト関数の変化量を計算するコスト関数値手段と、前記構造パラメータ値の更新に当り、コスト関数値の減少につながる更新は無条件に許し、他方コスト関数値が増加する更新については、構造パラメータ更新の度に逓減する温度パラメータを含む確率を判断し、温度パラメータ値が高いほどコスト関数値の増加につながる構造パラメータの更新を許す可能性が高いという構造パラメータの更新を、温度パラメータを変化させながら繰り返す構造パラメータ更新手段を含む半導体デバイスシミュレータ。
IPC (2件)：
G06F 15/20
, G06F 15/60 450
