特許

J-GLOBAL ID：200903051066819859

半導体集積回路

発明者： 西村 聡彦 ,  芥川 伸
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社
代理人 (1件)： 半田 昌男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-059591
公開番号（公開出願番号）：特開平5-223902
出願日： 1992年02月14日
公開日（公表日）： 1993年09月03日
要約：

【要約】【目的】 本発明は、少ない端子数で複数個の回路ブロックのテストを容易に行うことが可能な半導体集積回路を提供する。【構成】 本発明は、複数個の回路ブロック11乃至14を搭載するとともに各回路ブロック11乃至14からの内部信号を信号選択回路により選択して出力端子21に送る半導体集積回路1において、制御入力端子22からのセレクタ15の選択動作を制御するシリアルな制御信号をカウンタ3によりパラレルな制御信号に変換してセレクタ15に送るようにした。この構成により、少ない端子数でありながら、所望の回路ブロックの機能テストを速やかに実行できる。

請求項（抜粋）：

複数個の回路ブロックを搭載するとともに各回路ブロックからの内部信号を信号選択回路により選択して出力端子に送る半導体集積回路において、前記信号選択回路の選択動作を制御するシリアルな制御信号を入力する制御入力端子と、この制御入力端子からのシリアルな制御信号をパラレルな制御信号に変換して前記信号選択回路に送る制御信号変換回路とからなるテスト容易化回路を設けたことを特徴とする半導体集積回路。