特許
J-GLOBAL ID:200903051185283622

分析試料の前処理方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 服部 雅紀
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-211805
公開番号(公開出願番号):特開平5-052773
出願日: 1991年08月23日
公開日(公表日): 1993年03月02日
要約:
【要約】【目的】 操作が簡便で、測定元素の微量分析が可能で、かつClの分析が可能な高検出感度の分析試料の前処理方法を提供する。【構成】 分析試料である液体試料の一定量を金属板または金属箔上に点滴し、乾燥し、液滴を金属板または金属箔上に固着する。液体試料中には、金属板または金属箔と反応する腐食性成分を添加する。これは、点滴した液滴を乾燥過程で良好に金属板または金属箔に固着することで、液滴成分の損失をなくし、分析精度を高めるためである。分析手段には蛍光X線分析法を用いる。
請求項(抜粋):
蛍光X線分析法に用いる試料の前処理方法であって、液体試料の一定量を金属板または金属箔上に点滴し、点滴した液滴を乾燥することを特徴とする分析試料の前処理方法。
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開平1-114735

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