特許

J-GLOBAL ID：200903051189114019

電子部品の検査装置及び検査方法

発明者： 大月 君泰
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  須澤 修 ,  宮坂 一彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-228610
公開番号（公開出願番号）：特開2009-063296
出願日： 2007年09月04日
公開日（公表日）： 2009年03月26日
要約：

【課題】容易に高精度に検査を行うことができると共にコストを低減することができる電子部品の検査装置及び検査方法を提供する。【解決手段】接続部が並設されたコネクタ43が設けられた電子部品11を固定する固定手段220と、前記コネクタ43に挿入されて前記接続部と接続されると共に検査器に接続された検査用コネクタ230と、該検査用コネクタ230を移動自在に保持する保持手段240とを具備し、前記検査用コネクタ230が、各接続部に電気的に接続される並設されたプローブピンと、該プローブピンの並設方向両側に前記プローブピンの先端よりも突出して設けられて、前記コネクタの前記接続部の並設方向両側の外側に嵌合するガイド部とを具備し、前記保持手段240が、前記検査用コネクタ230を前記コネクタ43の挿入する方向に移動した際に、前記ガイド部が前記コネクタ43の外周に嵌合することによって前記コネクタ43に挿入される。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

一方面に配線パターンが設けられた基板状の配線基板が挿入されると共に前記配線パターンに電気的に接続される接続部が並設されたコネクタが設けられた電子部品を固定する固定手段と、前記コネクタに挿入されて前記接続部と接続されると共に検査器に接続された検査用コネクタと、該検査用コネクタを移動自在に保持する保持手段とを具備し、 前記検査用コネクタが、各接続部に電気的に接続される並設されたプローブピンと、該プローブピンの並設方向両側に前記プローブピンの先端よりも突出して設けられて、前記コネクタの前記接続部の並設方向両側の外側に嵌合するガイド部とを具備し、 前記保持手段が、前記検査用コネクタを前記コネクタの挿入方向に移動自在に保持すると共に、前記プローブピンの並設方向の移動自在に保持し、 前記保持手段が、前記検査用コネクタを前記コネクタの挿入する方向に移動した際に、前記ガイド部が前記コネクタの外周に嵌合することによって当該検査用コネクタを前記プローブピンの並設方向に移動させて前記コネクタに挿入されることを特徴とする電子部品の検査装置。

IPC (1件)：

G01R 31/02

FI (1件)：

G01R31/02

Fターム (7件)：

2G014AA02 ,  2G014AA03 ,  2G014AA14 ,  2G014AB18 ,  2G014AB60 ,  2G014AB62 ,  2G014AC08

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 液体噴射ヘッド及び液体噴射装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-329368   出願人：セイコーエプソン株式会社