特許
J-GLOBAL ID：200903051258762133
測定装置、測定方法、および画像出力装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石井 康夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-310540
公開番号（公開出願番号）：特開平10-153485
出願日： 1996年11月21日
公開日（公表日）： 1998年06月09日
要約：
【要約】【課題】 対象物の距離や位置によらずに対象物の特性を高精度に測定することのできる、小型化および低価格化が可能な測定装置および測定方法、その測定装置あるいは測定方法を用いた画像出力装置を提供する。【解決手段】 対象物1上に光源2から照射領域5に光を照射する。対象物1上の照射領域5からの反射光または散乱光をレンズ3で集光し、光電変換素子4に入射させる。光電変換素子4は、照射領域5と照射領域5以外の領域の境界部分が光電変換素子4の受光面上に来るようにする。さらに、対象物1がレンズ3に近づいた場合に、照射領域5の像が小さくなり、遠ざかった場合に、照射領域5の像が大きくなる位置で受光する。これにより、対象物1がレンズ3に近づくまたは遠ざかることによる光量の増大または減少を、照射領域5の減少または増大によって相殺し、対象物1の特性を測定することができる。
請求項（抜粋）：
対象物に少なくとも明領域と暗領域を形成する光を照射する光源と、前記対象物上に配置され前記光源から照射される光の光路と所定の角度の光軸を有するレンズと、該レンズとの相対位置が一定であり前記レンズを介して前記対象物からの反射光または散乱光を受光する受光手段と、該受光手段の受光量に応じて所定の測定値を求める測定手段を有し、前記受光手段は、受光面の一端に前記対象物上の前記明領域の像が、また他端に前記対象物上の前記暗領域の像が存在し、前記対象物が前記レンズに近づいた場合に前記暗領域の像の領域が大きくなり、前記対象物が前記レンズから遠ざかった場合に前記明領域の像の領域が大きくなるように配置されていることを特徴とする測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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