特許
J-GLOBAL ID:200903051274508794
画像分析方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
石橋 佳之夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-246081
公開番号(公開出願番号):特開平9-092195
出願日: 1995年09月25日
公開日(公表日): 1997年04月04日
要約:
【要約】【課題】 観察対象に凹凸があっても対象面を平坦に加工することなくその画像を分析することができ、対物レンズを所定の範囲で1回だけ移動させれば分析に必要な画像を取り込むことを可能にした画像分析方法を得る。【解決手段】 静止物体からカメラまでの距離を変えながら複数枚の画像データを得、この複数枚の画像データの中から、静止物体の凸から凹までの画像データを含む画像データを合成して1枚の画像データとし、この1枚の画像データを画像処理に供して画像分析を行う。複数枚の画像データの変化を逐次検知して変化部分の画像データのみを残し、残った画像データを合成して1枚の画像データとし、この1枚の画像データを画像処理に供して画像分析を行うようにしてもよい。
請求項(抜粋):
静止物体からカメラまでの距離を変えながら複数枚の画像データを得、この複数枚の画像データの中から、静止物体の凸から凹までの画像データを含む画像データを合成して1枚の画像データとし、この1枚の画像データを画像処理に供して画像分析を行うことを特徴とする画像分析方法。
IPC (2件):
FI (3件):
H01J 37/26
, G06F 15/62 380
, G06F 15/64 330
引用特許:
審査官引用 (5件)
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光学顕微鏡装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-350992
出願人:株式会社荏原製作所
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電子線装置および走査電子顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-106405
出願人:株式会社日立製作所
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特開平1-160262
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立体像観察用走査電子顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-291346
出願人:日本電子株式会社
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特開平2-120986
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