特許
J-GLOBAL ID:200903051322808673

塑性変形による各種損傷の特定法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 原田 卓治 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-165395
公開番号(公開出願番号):特開平9-325125
出願日: 1996年06月05日
公開日(公表日): 1997年12月16日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】 微小な試料から塑性変形による変形モードを特定することができ、将来起こると考えられる損傷の種類まで推定できる塑性変形による各種損傷の特定法を提供する。【解決手段】 塑性変形が生じている試料では、塑性変形により各結晶粒において結晶方位のずれが生じ、しかも変形モードと結晶方位の2次元的な変化分布との間に一定の関係があることが実験的に得られたことから、各結晶粒での複数の測定箇所の結晶方位のずれを測定して基準点とその周囲の点の2次元的な方位の変化を求め、これらを全てプロットして方位分布図を作るとともに、直線上の測定点のみの2次元的な方位変化のみをプロットした方位分布図を作り、さらに転位密度の高低を調べる。
請求項(抜粋):
被測定部から採取した試料を観察し、結晶粒内での微小領域で複数点の結晶方位を測定するとともに、当該試料をわずかに動かして同一結晶粒内で同様の結晶方位を測定した後、この試料移動前後の複数点の測定方位のうち1つを基準として当該基準点とその周囲の点の結晶方位の2次元的な変化を求め、これらの結晶方位の2次元的な変化をプロットした方位分布図を作成し、この方位分布がいくつかのグループにまとまる場合とまとまりのない場合とから前者をクリープ疲労による損傷と後者をクリープによる損傷と判定する一方、前記結晶方位の2次元的な変化のうち結晶粒内の一直線上の測定点に対するもののみをプロットして方位分布図を作成し、この方位分布が重ならない場合と重なる場合とから前者を塑性変形またはクリープによる損傷と後者をクリープ疲労または疲労による損傷と判定するとともに、塑性変形による損傷とクリープによる損傷とを結晶粒内の転位密度の高低で判定することを組み合わせて損傷の種類を判定するようにしたことを特徴とする塑性変形による各種損傷の特定法。
IPC (3件):
G01N 23/225 ,  G01N 1/04 ,  G01N 33/20
FI (3件):
G01N 23/225 ,  G01N 1/04 X ,  G01N 33/20 N

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