特許
J-GLOBAL ID:200903051367546017

レーザ溶接の溶接状態検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 後藤 洋介 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-233721
公開番号(公開出願番号):特開2000-061672
出願日: 1998年08月20日
公開日(公表日): 2000年02月29日
要約:
【要約】【課題】 溶接箇所の欠陥を高精度かつ詳細に検出できるレーザ溶接の溶接状態検出方法を提供する。【解決手段】 照射光Lwをワーク500に照射して溶接を行うレーザ溶接方法に適用され、ワーク500における溶接状態を検出するレーザ溶接の溶接状態検出方法である。レーザ溶接時にワーク500から放出されるプラズマ光Lpおよび反射光Lr両光の状態情報に基づいて溶接状態を検出する。
請求項(抜粋):
レーザ光をワークに照射して溶接を行うレーザ溶接方法に適用され、ワークにおける溶接状態を検出するレーザ溶接の溶接状態検出方法において、レーザ溶接時にワークから放出されるプラズマ光および反射光両光の状態情報に基づいて溶接状態を検出することを特徴とするレーザ溶接の溶接状態検出方法。
IPC (5件):
B23K 26/00 ,  B23K 26/00 310 ,  B23K 26/02 ,  B23K 31/00 ,  G01N 21/88
FI (5件):
B23K 26/00 P ,  B23K 26/00 310 A ,  B23K 26/02 C ,  B23K 31/00 L ,  G01N 21/88 Z
Fターム (10件):
2G051AA31 ,  2G051AB13 ,  2G051BA01 ,  2G051BA10 ,  2G051CB01 ,  2G051EA25 ,  2G051FA01 ,  4E068BA00 ,  4E068CA17 ,  4E068CC01
引用特許:
審査官引用 (2件)

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