特許
J-GLOBAL ID：200903051389216118
シート類の表面疵欠点検出方法および装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
千葉 茂雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-098875
公開番号（公開出願番号）：特開平6-288933
出願日： 1993年03月31日
公開日（公表日）： 1994年10月18日
要約：
【要約】【目的】 シート類の仕様の変化に対応し得、検反機のみならず編機や織機等においてシート類の疵欠点を検出する。【構成】 シート類のX・Y座標上の輝度をシート類の幅方向の各位置毎(X1,X2 ,X3 ,.........)に測定し、その測定値Yをシート類の幅方向の各位置(X1 ,X2 ,X3 ,.........)の順に並べ、ヒストグラム化してヒストグラム曲線13を求め、そのヒストグラム曲線13にX軸方向に続く基準線14を設定し、基準線14に交叉するヒストグラム曲線13の複数個の交点A・B・C・D・E.........のX軸方向におけるリピートの規則性の有無(ヒストグラム曲線13の波形の崩れ)によってシート類の疵欠点15を検出する。標準状態のシート類の影像と被検シート類の影像との比較によってではなく、被検シート類11の有する編組織や織組織の幅方向におけるリピートの有無によって疵欠点を検出するので、標準状態のシート類を調製したり被検シート類毎の基準データの取り替えを要せず、多様なシート類の検査に好適である。
請求項（抜粋）：
(a) シート類11の影像12の、シート類の幅方向をX軸とし長さ方向をY軸とするX・Y座標上の輝度を測定し、(b) シート類の幅方向(X)の各位置(X1 ,X2 ,X3 ,.........)における輝度の測定値Yを、シート類の幅方向の各位置毎(X1 ,X2 ,X3 ,.........)に標示しヒストグラム化してヒストグラム曲線13を求め、(c) そのヒストグラム曲線13にX軸方向に続く基準線14を設定し、(d) その基準線14に交叉するヒストグラム曲線13の複数個の交点A・B・C・D・E.........のX軸方向におけるリピートの規則性の有無によってシート類の疵欠点15を検出することを特徴とするシート類の表面疵欠点検出方法。
IPC (2件)：
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