特許
J-GLOBAL ID：200903051441724038
ICパッケージの外観検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 隆久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-295788
公開番号（公開出願番号）：特開平9-138116
出願日： 1995年11月14日
公開日（公表日）： 1997年05月27日
要約：
【要約】【課題】 エンボステープにICパッケージを収納する際に行う外観検査において、良品・不良品の誤判別を低減して歩留りの向上を可能とするICパッケージの外観検査装置を提供する。【解決手段】 エンボステープにICパッケージを収納した状態を撮像する第1の画像取込用カメラ1と、エンボステープにICパッケージを収納する以前の状態を撮像する第2の画像取込用カメラ2と、第1の画像取込用カメラ1からの画像に基づいてエンボステープの所定の外周領域に反射像が存在するか否かを判断し、反射像が存在しない場合には第1の画像取込用カメラ1による撮像を続行して良品・不良品の判別を行い、反射像が存在する場合には第2の画像取込用カメラ2による撮像に切替えて第2の画像取込用カメラ2からの画像に基づいて良品・不良品の判別を行う制御装置3とを備えるものとした。
請求項（抜粋）：
ICパッケージをエンボステープに収納する際に、ICパッケージの外観検査に用いられるICパッケージの外観検査装置であって、エンボステープの収納凹部にICパッケージを収納した状態を撮像する第1の撮像手段と、エンボステープの収納凹部にICパッケージを収納する以前の状態を撮像する第2の撮像手段と、第1の撮像手段からの画像に基づいてエンボステープの収納凹部の所定の外周領域に反射像が存在するか否かを判断し、反射像が存在しない場合には第1の撮像手段による撮像を続行して第1の撮像手段からの画像に基づいてICパッケージの良品・不良品の判別を行い、反射像が存在する場合には第2の撮像手段による撮像に切替えて第2の撮像手段からの画像に基づいてICパッケージの良品・不良品の判別を行う制御手段とを備えたICパッケージの外観検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/24 C
, H05K 13/08 D
