特許
J-GLOBAL ID：200903051445621993
寸法測定装置および商品処理装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山村 喜信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-156693
公開番号（公開出願番号）：特開平11-325836
出願日： 1998年05月20日
公開日（公表日）： 1999年11月26日
要約：
【要約】【課題】 閾値の設定に基づく装置ごとの検出精度のバラツキを小さくすることのできる寸法測定装置を提供する。【解決手段】 寸法測定モードにおいて、所定の領域Aに存在する被測定物Tを撮像装置2により撮像し、該撮像した撮像情報から被測定物のエッジTeを閾値に基づいて検出することにより被測定物Tの寸法を測定する寸法測定装置に関する。閾値を設定する閾値設定モードを設け、該閾値設定モードにおいて、被測定物Tおよび背景を撮像した撮像情報に基づいて閾値Sh0を算出する。
請求項（抜粋）：
寸法測定モードにおいて、所定の領域に存在する被測定物を撮像装置により撮像し、該撮像した撮像情報から前記被測定物のエッジを閾値に基づいて検出することにより前記被測定物の寸法を測定する寸法測定装置であって、前記閾値を設定する閾値設定モードを設け、該閾値設定モードにおいて、被測定物および背景を撮像した撮像情報に基づいて前記閾値を算出する閾値算出手段を設けた寸法測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/02
, B65B 1/30
, B65C 9/46
G01B 11/02 H
, B65B 1/30 Z
, B65C 9/46
