特許
J-GLOBAL ID：200903051453556530
製品の特性をモニタするシステム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 敬 (外4名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-534015
公開番号（公開出願番号）：特表2003-513366
出願日： 1999年10月29日
公開日（公表日）： 2003年04月08日
要約：
【要約】試験プロセスにおいて製品の特性をモニタするためのシステムであって、前記製品に関する情報を記憶するための、前記製品からは分離されていてこの製品に取付けるように適合されている情報記憶装置、前記情報記憶装置に対して前記情報を書込むための書込み手段、前記情報記憶装置から前記情報を読取り、データベース内に該情報を記憶するための読取り手段、及び試験結果を生成するため前記製品に対して試験を実施し、前記情報と結びつけられるような形で前記データベース内に前記試験結果を記憶するとともに、その後、前記データベース内に記憶された試験結果及び前記結びつけられた情報によって該製品の特性のモニタリングをなしうる試験手段、を含んで成るシステム。
請求項（抜粋）：
試験プロセスで製品の特性をモニタするシステムであって、 前記製品に関する情報を記憶するための、前記製品からは分離されていてこの製品に取付けるようにされている情報記憶装置、 前記情報記憶装置に対して前記情報を書込むための書込み手段、 前記情報記憶装置から前記情報を読取り、データベース内に該情報を記憶するための読取り手段、及び 試験結果を生成するため前記製品に対して試験を実施し、前記情報と結びつけられるような形で前記データベース内に前記試験結果を記憶するとともに、その後、前記データベース内に記憶された試験結果及び前記結びつけられた情報によって該製品の特性のモニタリングをなしうる試験手段、を含んで成るシステム。
IPC (5件)：
G06F 17/60 104
, G06F 17/60 106
, G01N 3/00
, G01N 11/00
, G01N 33/38
G06F 17/60 104
, G06F 17/60 106
, G01N 3/00 M
, G01N 11/00 E
, G01N 33/38
2G061AA02
, 2G061AB01
, 2G061BA01
, 2G061CA08
