特許

J-GLOBAL ID：200903051470484810

検査装置及び検査方法

発明者： 鎌田 悟
出願人/特許権者： エプソンイメージングデバイス株式会社
代理人 (2件)： 上柳 雅誉 ,  宮坂 一彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-143731
公開番号（公開出願番号）：特開2007-315838
出願日： 2006年05月24日
公開日（公表日）： 2007年12月06日
要約：

【課題】端子部の接続状態を切り替える機能を備えることにより、端子部と電気配線とを接触させた後であっても、発生した静電気等を確実に除去することができる検査装置、及びそのような検査装置を用いた検査方法を提供する。【解決手段】電気光学装置用基板上に設けられた電気配線の導通を検査するための検査装置であって、電気配線と接触させる端子部と、当該端子部に対して電圧を印加して導通状態を検査するための検査手段と、端子部を接地させるための接地手段と、を含むとともに、端子部及び接地手段を電気接続する第1の接続状態と、端子部及び検査手段を電気接続する第2の接続状態と、を切り替えるためのスイッチング手段を含む。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

電気光学装置用基板上に設けられた電気配線の導通を検査するための検査装置であって 、 前記電気配線と接触させる端子部と、当該端子部に対して電圧を印加して導通状態を検 査するための検査手段と、前記端子部を接地させるための接地手段と、を含むとともに、 前記端子部及び接地手段を電気接続する第1の接続状態と、前記端子部及び検査手段を 電気接続する第2の接続状態と、を切り替えるためのスイッチング手段を含むことを特徴 とする検査装置。

IPC (4件)：

G01R 31/00 ,  G09F 9/00 ,  G02F 1/134 ,  H05K 3/00

FI (4件)：

G01R31/00 ,  G09F9/00 352 ,  G02F1/1345 ,  H05K3/00 T

Fターム (20件)：

2G036AA22 ,  2G036BA33 ,  2G036CA12 ,  2H092GA48 ,  2H092GA50 ,  2H092HA04 ,  2H092JA24 ,  2H092JB77 ,  2H092JB79 ,  2H092KA18 ,  2H092KB04 ,  2H092MA57 ,  2H092NA14 ,  2H092NA29 ,  2H092NA30 ,  5G435AA14 ,  5G435AA19 ,  5G435BB12 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 液晶表示装置およびその製造方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-107405   出願人：シャープ株式会社