特許
J-GLOBAL ID：200903051504769312
温度センサのリニアライズ処理方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中井 宏行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-285638
公開番号（公開出願番号）：特開平5-099755
出願日： 1991年10月04日
公開日（公表日）： 1993年04月23日
要約：
【要約】【目的】温度センサ毎の固有の誤差を容易に校正できるようにして、高精度の温度測定を行えるようにする。【構成】予め求められている温度センサの温度に対する定格抵抗特性を双曲線で近似させ、サンプリングした温度センサの抵抗値を上記双曲線近似式に代入して温度値を算出するようにした温度センサのリニアライズ処理方法において、温度センサの抵抗値をサンプリングする毎に、サンプリングした抵抗値に温度センサ固有の誤差を補償する補正係数を掛け算処理して補正抵抗値を算出し、算出した補正抵抗値を上記双曲線近似式に代入して校正温度値を求めて表示などの必要なデータ処理を行うようにされている。
請求項（抜粋）：
予め求められている温度センサの温度に対する定格抵抗特性を双曲線で近似させ、サンプリングした温度センサの抵抗値を上記双曲線近似式に代入して温度値を算出するようにした温度センサのリニアライズ処理方法において、温度センサの抵抗値をサンプリングする毎に、サンプリングした抵抗値に温度センサ固有の誤差を補償する補正係数を掛け算処理して補正抵抗値を算出し、算出した補正抵抗値を上記双曲線近似式に代入して校正温度値を求めて表示などの必要なデータ処理を行うようにしたことを特徴とする温度センサのリニアライズ処理方法。
IPC (2件)：
G01K 7/00 321
, G01K 7/24
