特許
J-GLOBAL ID:200903051507648494

蛍光X線分析試料調製時の硫黄揮散防止方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 押田 良久
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-032736
公開番号(公開出願番号):特開平6-221975
出願日: 1993年01月27日
公開日(公表日): 1994年08月12日
要約:
【要約】【目的】 蛍光X線分析用試料調製時の硫黄成分の揮散を防止する。【構成】 粉末試料、融解剤、硫黄揮散防止剤を混合して高温融解し、蛍光X線分析用のガラスビード試料を調製する方法において、硫黄揮散防止剤としてよう化バリウム水溶液を用いる。【効果】 蛍光X線分析用のガラスビード試料調製における硫黄成分の揮散を防止して高精度で硫黄成分を測定できる。
請求項(抜粋):
粉末試料、融解剤、硫黄揮散防止剤を混合して高温融解し、蛍光X線分析用のガラスビード試料を調製する方法において、硫黄揮散防止剤としてよう化バリウム水溶液を用いることを特徴とする蛍光X線分析用試料調製時の硫黄揮散防止方法。
IPC (2件):
G01N 1/28 ,  G01N 23/223

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