特許

J-GLOBAL ID：200903051531062271

側面検査方法

発明者： 元村 雅記 ,  佐藤 裕之
出願人/特許権者： 株式会社日鉄エレックス
代理人 (1件)： 中前 富士男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-354631
公開番号（公開出願番号）：特開2003-156453
出願日： 2001年11月20日
公開日（公表日）： 2003年05月30日
要約：

【要約】【課題】 円筒形状の検査対象物の側面に存在する打痕や歪みを低コスト、短時間、安定した精度で検出することが可能な側面検査方法を提供する。【解決手段】 円筒形状の検査対象物12の側面に検査対象物12の軸方向に平行な線状光を照射する線状光源11を配置し、線状光源11からの照射光を側面に照射して側面からの反射光を側面の外側に設けた線状撮像手段14で受光して、側面に存在する打痕及び歪みの検査を行う側面検査方法であって、検査対象物12を線状光源11に対して相対的に回転させて、線状光源11の位置と検査対象物12の位置との関係から検査対象物12の側面が平滑の場合に生じる線状光源11からの平滑面反射光Yの方向に対して光軸をずらせて線状撮像手段14を配置して、反射光を線状撮像手段14で受光することにより検査対象物12の側面に存在する打痕及び側面の歪みを検出する。

請求項（抜粋）：

円筒形状の検査対象物の側面に該検査対象物の軸方向に平行な線状光を照射する線状光源を配置し、該線状光源からの照射光を該側面に照射して該側面からの反射光を該側面の外側に設けた線状撮像手段で受光して、前記側面に存在する打痕及び歪みの検査を行う側面検査方法であって、前記検査対象物を前記線状光源に対して相対的に回転させ、前記線状光源の位置と前記検査対象物の位置との関係から該検査対象物の側面が平滑の場合に生じる前記線状光源からの平滑面反射光の方向に対して光軸をずらせて前記線状撮像手段を配置して、前記反射光を前記線状撮像手段で受光することにより前記検査対象物の側面に存在する打痕及び側面の歪みを検出することを特徴とする側面検査方法。

IPC (6件)：

G01N 21/952 ,  G01B 11/30 ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 1/00 400 ,  G06T 1/00 420 ,  H01M 2/02

FI (6件)：

G01N 21/952 ,  G01B 11/30 A ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 1/00 400 C ,  G06T 1/00 420 F ,  H01M 2/02 C

Fターム (49件)：

2F065AA49 ,  2F065AA65 ,  2F065BB06 ,  2F065CC00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF42 ,  2F065GG03 ,  2F065GG06 ,  2F065GG07 ,  2F065GG14 ,  2F065GG16 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ25 ,  2F065JJ26 ,  2G051AA01 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051BA01 ,  2G051BA10 ,  2G051BB01 ,  2G051CA03 ,  2G051CA06 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051DA01 ,  2G051DA08 ,  5B047AA07 ,  5B047AA11 ,  5B047BB03 ,  5B047BC01 ,  5B047BC05 ,  5B047BC12 ,  5B047BC14 ,  5B047CA04 ,  5B047CA23 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057BA15 ,  5B057BA17 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5H011AA09 ,  5H011AA12