特許
J-GLOBAL ID：200903051625715805
コネクタ試験器
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
萩野 平 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-034223
公開番号（公開出願番号）：特開平7-226277
出願日： 1994年02月08日
公開日（公表日）： 1995年08月22日
要約：
【要約】【目的】 接続端子のコネクタハウジングへの組付け工程で行なう導通検査と同時に、接続端子の曲がり検査を行なうことができるコネクタ試験器を提供する。【構成】 チェッカー本体2上にコネクタ20を取付ける支持板18を設け、このコネクタ20と対向する位置にチェッカー可動部3が設けられている。このチェッカー可動部3の前面には、コネクタ20内の係止ランスの撓み空間に嵌入するスペーサ6と、コネクタ20内の雄型端子の接触ピン位置を検出するための検出片8が設けられている。そして、この検出片8の上下には絶縁部材を介して隣接し、接触ピンの上下方向の曲がりを検出する各々独立した検出片7,9が設けられている。よって、前記構成による検査時において検出片7,8,9のいずれかが接触ピン先端と接触することにより雄型端子の導通検査と同時に、雄型端子の曲がり検査を行なうことができる。
請求項（抜粋）：
チェッカー本体上に雄型端子が嵌挿されたコネクタを保持するための支持板と、該支持板と対向して前後方向に摺動可能なチェッカー可動部を設けると共に、該チェッカー可動部の前面には前記コネクタ内の雄型端子と導通を得るための検出片を備え、検査時に前記雄型端子の先端部が前記検出片と接触することでコネクタ内の雄型端子の導通検査を行うようにしたコネクタ試験器において、前記検出片とは別の回路を構成する少なくとも1個の検出片が、前記検出片の隣接した位置に配設されることで、前記導通検査と同時に前記雄型端子の接触部の曲がり検査を行うことを特徴とするコネクタ試験器。
IPC (2件)：
引用特許：
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