特許
J-GLOBAL ID：200903051630441659
分析系の応答速度改善方法および排気ガス測定システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-159847
公開番号（公開出願番号）：特開2004-361241
出願日： 2003年06月04日
公開日（公表日）： 2004年12月24日
要約：
【課題】特殊な構造をとらず、一般的な分析系の構造で応答速度の速い分析系を実現することができる分析系の応答速度改善方法および排気ガス測定システムを提供する。【解決手段】測定信号Ciに所定パラメータτによる遅れ補正処理6を行なう応答速度の改善方法であって、ステップ状に変化させた測定対象ガス(例えばCO2 )を測定したときの測定信号Ciをサンプリングして記憶すると共に、演算処理部4aに、記憶した測定信号Ciに順次変化させた前記パラメータτによる遅れ補正演算処理を行なわせ、各パラメータτを用いた場合の遅れ補正演算処理後の測定信号CoがオーバーシュートOvを起こすかどうかを判断させて、オーバーシュートOvを起こさない最大のパラメータτを最適パラメータ8として設定させることにより、測定時に最適パラメータ8による遅れ補正処理6を行なう。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
測定信号に所定パラメータによる遅れ補正処理を行なう応答速度の改善方法であって、
ステップ状に変化させた測定対象を測定したときの測定信号をサンプリングして記憶すると共に、
演算処理部に、
記憶した測定信号に順次変化させた前記パラメータによる遅れ補正演算処理を行なわせ、
各パラメータを用いた場合の遅れ補正演算処理後の測定信号がオーバーシュートを起こすかどうかを判断させて、
オーバーシュートを起こさない最大のパラメータを最適パラメータとして設定させることにより、
測定時に最適パラメータによる遅れ補正処理を行なうことを特徴とする分析系の応答速度改善方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (7件)：
2G060AA03
, 2G060AB09
, 2G060AE19
, 2G060BC04
, 2G060BC05
, 2G060HC08
, 2G060KA01
