特許
J-GLOBAL ID：200903051664091185
イオン分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-268914
公開番号（公開出願番号）：特開平7-120445
出願日： 1993年10月27日
公開日（公表日）： 1995年05月12日
要約：
【要約】【目的】 ノイズを小さくできると共に、安定なベースラインを得ることができる。【構成】 イオン交換膜を介して除去液で挟まれたサプレッサの溶離液室に分離カラムで分離した被測定溶液を導き、前記サプレッサに印加した電圧によって被測定溶液からイオン交換膜を介して妨害イオンを除去液側に除去した後、被測定溶液中のイオンを分析するイオン分析装置において、前記サプレッサで除去液側に発生するガスを除去する脱気装置を設けたことを特徴している。
請求項（抜粋）：
イオン交換膜を介して除去液で挟まれたサプレッサの溶離液室に分離カラムで分離した被測定溶液を導き、前記サプレッサに印加した電圧によって被測定溶液からイオン交換膜を介して妨害イオンを除去液側に除去した後、被測定溶液中のイオンを分析するイオン分析装置において、前記サプレッサで除去液側に発生するガスを除去する脱気装置、を設けたことを特徴とするイオン分析装置。
IPC (2件)：
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