特許

J-GLOBAL ID：200903051683275912

疵検査装置の使用方法

発明者： 吉原 敦 ,  湊 研
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社
代理人 (1件)： 田北 嵩晴
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-120408
公開番号（公開出願番号）：特開平8-292160
出願日： 1995年04月24日
公開日（公表日）： 1996年11月05日
要約：

【要約】【目的】 本発明は帯状物の表面疵を検査するための疵検査装置の使用方法に関するものである。【構成】 帯状物1をロール4に接触させた部分で表面疵検査装置を使用する表面検査方法において、被検査体である帯状物1とロール4に明度差をつけることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

帯状物をロールに接触させた部分で表面疵検査装置を使用する表面検査方法において、被検査体である帯状物トロールに明度差をつけることを特徴とする表面検査方法。