特許
J-GLOBAL ID:200903051703677885

高感度の光アドレスできる側鎖基をもつ重合体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小田島 平吉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-224423
公開番号(公開出願番号):特開平10-077316
出願日: 1997年08月07日
公開日(公表日): 1998年03月24日
要約:
【要約】【課題】 高感度の光アドレスできる側鎖基を持つ重合体。【解決手段】 本発明は、6つの簡単な測定を用いて、光アドレスできる重合体の導入のためのアンテナ(電磁照射を吸収しうる基)の適合性に関する結論を可能にする光学的方法を提供する。
請求項(抜粋):
幹として働く主鎖及びそれから枝別れし且つ共有結合した式-S1-T1-Q1-A (I)及び-S2-T2-Q2-M (II)[式中、S1及びS2は原子O又はS又は基NR0を示し、R0は水素又はC1〜C4アルキルを示し、T1及びT2は、随時-O-、-NR0-又は-OSiR02O-が介在していてよく及び/又は随時メチル又はエチルで置換されていてよい基(CH2)nを示し、Q1及びQ2は直接の単結合、-O-、-COO-、-OCO-、-CONR0-、-NR0CO-又は-NR0-を示し、或いはS1T1Q1又はS2T2Q2は、式【化1】の2価の基を示し、Aは電磁照射を吸収できる単位を示し、Mは形的に異方性のメソ-ゲン単位を示し、nは2〜12の整数を示す]の側鎖基を有する重合体であって、Aが、6つの個々の測定により式A-Q1H又はAQ1T1S1Hの化合物、特にA)最低の可能な極性の溶媒中において最低の可能な濃度のA-Q1H又はAQ1T1S1H、B)同一の溶媒中において最大の可能な濃度の基準物質、C)同一の溶媒中において上述した濃度のA-Q1H又はAQ1T1S1H及び基準物質、について測定して0.2より大きい吸光率ΔΔEを有する、但しそれぞれの場合に吸収曲線の長波長側のへりで2回、つまり曲線Cの吸光が0.8である波長λにおいて1回及び波長λ+50nmにおいて1回測定して、成分A)〜C)に対して3つの吸光の差ΔE=Eλ-Eλ+50を得、このようにして3つの値ΔEA及びΔEB及びΔECを得、ついで求める値ΔΔEが差ΔΔE=ΔEC-(ΔEB+ΔEA)である、該重合体。
IPC (3件):
C08F 20/10 ,  C08F 20/52 ,  C09K 3/00
FI (3件):
C08F 20/10 ,  C08F 20/52 ,  C09K 3/00 C
引用特許:
審査官引用 (5件)
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