特許
J-GLOBAL ID：200903051703677885
高感度の光アドレスできる側鎖基をもつ重合体
発明者：
,
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小田島 平吉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-224423
公開番号（公開出願番号）：特開平10-077316
出願日： 1997年08月07日
公開日（公表日）： 1998年03月24日
要約：
【要約】【課題】 高感度の光アドレスできる側鎖基を持つ重合体。【解決手段】 本発明は、6つの簡単な測定を用いて、光アドレスできる重合体の導入のためのアンテナ(電磁照射を吸収しうる基)の適合性に関する結論を可能にする光学的方法を提供する。
請求項（抜粋）：
幹として働く主鎖及びそれから枝別れし且つ共有結合した式-S1-T1-Q1-A (I)及び-S2-T2-Q2-M (II)[式中、S1及びS2は原子O又はS又は基NR0を示し、R0は水素又はC1〜C4アルキルを示し、T1及びT2は、随時-O-、-NR0-又は-OSiR02O-が介在していてよく及び/又は随時メチル又はエチルで置換されていてよい基(CH2)nを示し、Q1及びQ2は直接の単結合、-O-、-COO-、-OCO-、-CONR0-、-NR0CO-又は-NR0-を示し、或いはS1T1Q1又はS2T2Q2は、式【化1】の2価の基を示し、Aは電磁照射を吸収できる単位を示し、Mは形的に異方性のメソ-ゲン単位を示し、nは2〜12の整数を示す]の側鎖基を有する重合体であって、Aが、6つの個々の測定により式A-Q1H又はAQ1T1S1Hの化合物、特にA)最低の可能な極性の溶媒中において最低の可能な濃度のA-Q1H又はAQ1T1S1H、B)同一の溶媒中において最大の可能な濃度の基準物質、C)同一の溶媒中において上述した濃度のA-Q1H又はAQ1T1S1H及び基準物質、について測定して0.2より大きい吸光率ΔΔEを有する、但しそれぞれの場合に吸収曲線の長波長側のへりで2回、つまり曲線Cの吸光が0.8である波長λにおいて1回及び波長λ+50nmにおいて1回測定して、成分A)〜C)に対して3つの吸光の差ΔE=Eλ-Eλ+50を得、このようにして3つの値ΔEA及びΔEB及びΔECを得、ついで求める値ΔΔEが差ΔΔE=ΔEC-(ΔEB+ΔEA)である、該重合体。
IPC (3件)：
C08F 20/10
, C08F 20/52
, C09K 3/00
C08F 20/10
, C08F 20/52
, C09K 3/00 C
