特許
J-GLOBAL ID:200903051750735893

超音波画像診断装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-308707
公開番号(公開出願番号):特開平11-197152
出願日: 1998年10月29日
公開日(公表日): 1999年07月27日
要約:
【要約】【課題】本発明の目的は、断層像上で複数の計測点を簡易に且つ正確に指定することのできる超音波画像診断装置を提供することにある。【解決手段】本発明は、被検体内の断面を超音波で走査するプローブ1、送信ユニット2及び受信ユニット3と、この走査により得られるエコー信号に基づいて断面に関する断層像を生成するB/Mモード処理ユニット4と、計測点を指定するためのツールを作成するグラフィック演算器6と、作成されたツールを断層像と共に表示する表示ユニット5と、ツールを操作するためのトラックボール7と、ツールにより指定された計測点間の距離を計算する計算器8とを具備する超音波画像診断装置において、ツールには断層像上に任意位置及び任意角度で設けられる基準線が含まれ、この基準線上に複数の計測点を連続的に指定することができるようになっていることを特徴とする。
請求項(抜粋):
被検体内の断面を超音波で走査する手段と、前記走査により得られるエコー信号に基づいて前記断面に関する断層像を生成する手段と、計測点を指定するためのツールを作成する手段と、前記作成されたツールを、前記断層像と共に表示する手段と、前記ツールを操作するための入力手段と、前記ツールにより指定された計測点間の距離を計算する手段とを具備する超音波画像診断装置において、前記ツールには、前記断層像上に任意位置及び任意角度で設けられる基準線が含まれ、この基準線上に複数の計測点を連続的に指定することができるようになっていることを特徴とする超音波画像診断装置。
IPC (4件):
A61B 8/00 ,  A61B 8/08 ,  A61B 8/14 ,  G01B 17/00
FI (4件):
A61B 8/00 ,  A61B 8/08 ,  A61B 8/14 ,  G01B 17/00 B
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 超音波診断装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-281514   出願人:富士通株式会社
  • 超音波診断装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-321969   出願人:エイティーエル・ウルトラサウンド・インコーポレイテッド

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