特許

J-GLOBAL ID：200903051787898547

ICハンドラ

発明者： 矢部 鏡司 ,  杉山 滋章 ,  川島 英治 ,  尾川 健男
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立清水エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-136565
公開番号（公開出願番号）：特開平5-335386
出願日： 1992年05月28日
公開日（公表日）： 1993年12月17日
要約：

【要約】【構成】ICハンドラ本体1内部にICリード検査機構2を設け、ICテスタによる特性検査結果と、ICリード検査機構2によるリード外観検査結果により、ICの分類・回収をする。【効果】特性検査結果とリード外観検査結果によるICの分類・回収を同一装置で同一工程で行なうことができ、省スペース化,省力化を図ることができる。

請求項（抜粋）：

ICハンドラにおいて、ICのリード外観検査を行なう機能を有するICリード検査機構を、ハンドラ本体内に具備したことを特徴とするICハンドラ。

IPC (2件)：

H01L 21/66 ,  G01R 31/26