特許
J-GLOBAL ID:200903051852849265

シャドウバンドを備える気象観測装置による改良された散乱気象量の測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 稲葉 良幸 ,  大賀 眞司 ,  大貫 敏史
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-175236
公開番号(公開出願番号):特開2008-003040
出願日: 2006年06月26日
公開日(公表日): 2008年01月10日
要約:
【課題】シャドウバンドを備える日射計・照度計による高精度な散乱気象量の測定方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明によれば、センサと、前記センサが受ける光を遮蔽することができ、南北を中心軸として、回転するシャドウバンドと、を備える気象観測装置による日射強度・照度に関する気象量の測定方法であって、(1)前記センサが太陽から受ける光を遮蔽しない状態で、かつ、前記センサが全天日射・照度状態に晒される位置に、前記シャドウバンドを配置させて第一の気象量を測定する工程と、(2)前記センサが太陽から受ける光を遮蔽する状態の位置において、前記シャドウバンドを配置させて第二の気象量を測定する工程と、(3)前記センサが太陽から受ける光を遮蔽する状態を基準として、前記南北を中心軸として、所定の回転角度にて前後した位置に、前記シャドウバンドを配置させて、それぞれ、第三および第四の気象量を測定する工程と、を含む方法を提供する。【選択図】図9
請求項(抜粋):
センサと、前記センサが受ける光を遮蔽することができ、南北を中心軸として回転するシャドウバンドと、を備える気象観測装置による日射強度・照度に関する気象量の測定方法であって、 (1)前記センサが太陽から受ける光を遮蔽しない状態で、かつ、前記センサが全天日射・照度状態に晒される位置に、前記シャドウバンドを配置させて第一の気象量を測定する工程と、 (2)前記センサが太陽から受ける光を遮蔽する状態の位置において、前記シャドウバンドを配置させて第二の気象量を測定する工程と、 (3)前記センサが太陽から受ける光を遮蔽する状態を基準として、前記南北を中心軸として、所定の回転角度にて前後した位置に、前記シャドウバンドを配置させて、それぞれ、第三および第四の気象量を測定する工程と、 を含む方法。
IPC (2件):
G01W 1/12 ,  G01J 1/42
FI (2件):
G01W1/12 B ,  G01J1/42 J
Fターム (13件):
2G065AA03 ,  2G065AA07 ,  2G065AA15 ,  2G065AA17 ,  2G065AA18 ,  2G065AB24 ,  2G065BB21 ,  2G065BB48 ,  2G065BC05 ,  2G065BC13 ,  2G065BC28 ,  2G065BC33 ,  2G065CA01
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 日照計
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2003-307024   出願人:横河電子機器株式会社
審査官引用 (1件)
  • 日照計
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2003-307024   出願人:横河電子機器株式会社

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