特許
J-GLOBAL ID:200903051872223800

分析方法および分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中島 淳 (外2名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-528290
公開番号(公開出願番号):特表2000-504829
出願日: 1997年02月10日
公開日(公表日): 2000年04月18日
要約:
【要約】分子種の相互作用を監視する方法は、その表面に形成された導波路(2)を有する基体(1)からなるセンサー装置を利用する。格子(3)は、導波路(2)の表面の片面に形成される。光のビーム(6)は格子(3)に入射し、最大反射か起きる入射角が監視される。第1の分子種は、導波路(2)上で固定化される。反射最大の角度位置の変化は、第1の分子種と、センサー装置に接触させられるサンプル内に含まれる第2の分子種との相互作用を指示を提供する。
請求項(抜粋):
サンプル中の第1の分子種と第2の分子種との相互作用を監視する方法であって、その方法は 表面の少なくとも一部の上に形成された導波路を備える基体を有するセンサー装置を提供することを有し、前記導波路は前記導波路と前記基体との間に境界面を構成する第1の主面と前記第2の分子種が固定化された第2の主面とを有し、前記第1および/または第2の主面の少なくともある領域には周期的屈折率変調面が形成され、 前記第1の分子種を含むサンプルを前記第2の主面に接触させることを有し、 前記周期的屈折率変調面に単色の入射光のビームを照射することを有し、 場合次第である導波モードが前記導波路内で励起される角度または波長を含むある範囲の角度または波長に亘って、それぞれ前記光の入射角または前記光の波長を変化させることを有し、 前記入射光の入射角または波長の関数として、前記周期的屈折率変調面からの反射光の強度を監視することを有し、 前記周期的屈折率変調面からの反射光の強度が最大になる入射角または波長を決定することを有する方法。
IPC (5件):
G01N 33/543 595 ,  G01N 21/21 ,  G01N 21/41 ,  G01N 21/75 ,  G01N 33/566
FI (5件):
G01N 33/543 595 ,  G01N 21/21 Z ,  G01N 21/41 Z ,  G01N 21/75 Z ,  G01N 33/566

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