特許

J-GLOBAL ID：200903051942094468

光素子アレイの試験方法

発明者： 竹下 達也 ,  香川 俊明 ,  東盛 裕一
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-244344
公開番号（公開出願番号）：特開2001-066222
出願日： 1999年08月31日
公開日（公表日）： 2001年03月16日
要約：

【要約】【課題】 集積度の高いアレイであっても、熱的影響を無視することなく各エレメントの光出力特性を精度よく測定できる光素子アレイの試験方法を提供する。【解決手段】 面発光レーザ素子のエレメント10b-1〜10b-20を縦に2個、横に10個配列した面発光レーザ素子アレイ10bのエレメント10b-4の光出力特性を測定する場合において、測定対象のエレメント10b-4の周囲のエレメント10b-3,10b-5,10b-13〜10b-15のみに通電しながら、当該エレメント10b-4の光出力特性を測定する。

請求項（抜粋）：

光素子のエレメントを複数配列した光素子アレイの当該エレメントの光出力特性を当該エレメントごとに測定する光素子アレイの試験方法であって、測定対象の前記エレメントの周囲の前記エレメントのみに通電しながら、測定対象の当該エレメントの光出力特性を測定することを特徴とする光素子アレイの試験方法。

Fターム (1件)：

2G086EE03