特許

J-GLOBAL ID：200903051986533965

流体検査用チップ、および流体検査用チップの製造方法、並びに流体検査用光学システム、流体検査用電気システム、および検知方法

発明者： 横峯 国紀
出願人/特許権者： 京セラ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-292393
公開番号（公開出願番号）：特開2007-147602
出願日： 2006年10月27日
公開日（公表日）： 2007年06月14日
要約：

【課題】 流路を流通する流体に含有される被検出物の含有率が極めて小さい場合であっても、その被検出物を感度よく検出することが可能な高感度かつ信頼性に優れた流体検査用チップを提供する。【解決手段】 表面および内部の少なくとも一方に流体が流れる流路を備えた基体を有し、流路は、流体中に含有された所定の物質を捕捉する捕捉領域を有し、流路の捕捉領域における少なくとも一部の表面は、流路の他の領域における表面よりも、算術平均粗さが大きい。【選択図】 図1A

請求項（抜粋）：

表面および内部の少なくとも一方に流体が流れる流路を備えた基体を有し、 前記流路は、前記流体中に含有された所定の物質を捕捉する捕捉領域を有し、 前記流路の捕捉領域における少なくとも一部の表面は、前記流路の他の領域における表面よりも、算術平均粗さが大きいことを特徴とする流体検査用チップ。

IPC (12件)：

G01N 33/543 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/536 ,  G01N 21/78 ,  G01N 37/00 ,  G01N 27/327 ,  G01N 27/28 ,  G01N 21/05 ,  C12M 1/00 ,  C12Q 1/68 ,  G01N 21/64 ,  G01N 35/08

FI (12件)：

G01N33/543 525C ,  G01N33/53 M ,  G01N33/536 D ,  G01N21/78 C ,  G01N37/00 101 ,  G01N27/30 351 ,  G01N27/28 321F ,  G01N21/05 ,  C12M1/00 A ,  C12Q1/68 A ,  G01N21/64 Z ,  G01N35/08 A

Fターム (63件)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA01 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043EA19 ,  2G043FA02 ,  2G043GA07 ,  2G043GB16 ,  2G043GB28 ,  2G043HA01 ,  2G043HA09 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043LA03 ,  2G054AA06 ,  2G054CA22 ,  2G054EA03 ,  2G054FA06 ,  2G054GA04 ,  2G054GB02 ,  2G057AA04 ,  2G057AC01 ,  2G057BA05 ,  2G057BB01 ,  2G057BB10 ,  2G057CB10 ,  2G058AA09 ,  2G058CC05 ,  2G058CC08 ,  2G058GA01 ,  2G058GA11 ,  4B024AA11 ,  4B024AA19 ,  4B024CA04 ,  4B024CA05 ,  4B024CA06 ,  4B024CA11 ,  4B024HA08 ,  4B024HA12 ,  4B024HA14 ,  4B024HA19 ,  4B029AA07 ,  4B029AA21 ,  4B029AA23 ,  4B029BB20 ,  4B029CC03 ,  4B029CC08 ,  4B029FA12 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ42 ,  4B063QR32 ,  4B063QR55 ,  4B063QR66 ,  4B063QR84 ,  4B063QS03 ,  4B063QS12 ,  4B063QS34 ,  4B063QS36 ,  4B063QX04