特許

J-GLOBAL ID：200903051997750534

クロマトグラフ質量分析装置

発明者： 住吉 崇史
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2006304371
公開番号（公開出願番号）：WO2007-102201
出願日： 2006年03月07日
公開日（公表日）： 2007年09月13日
要約：

測定時間範囲を適宜に設定して、スキャン測定、選択イオンモニタリング(SIM)測定、又はスキャン/SIM同時測定のいずれを選択できるようにしたクロマトグラフ質量分析装置において、測定条件テーブルの入力設定を行う際に、標準試料をスキャン測定することで取得されたトータルイオンクロマトグラム51と、予め作成された化合物テーブル52とを表示部の画面に表示する。オペレータはスキャン/SIM測定の対象とする化合物を選定し化合物テーブル52中のチェックボックスにマークを入れて「自動作成」ボタン54をクリック操作する。すると、選択された化合物の保持時間の前後に所定の時間幅を持たせた測定時間範囲を決め、その範囲内で化合物を特徴付ける質量数を測定質量数としたスキャン/SIM同時測定を実行する測定条件テーブル53を自動的に作成して表示する。

請求項（抜粋）：

クロマトグラフにより時間方向に分離した試料成分を順次質量分析部に導入して質量分析を実行するクロマトグラフ質量分析装置であって、前記質量分析部において所定の質量数範囲に亘る連続的な質量走査を繰り返し行うスキャン測定と、特定の質量数について1つの質量数を一定時間維持しつつ段階的に質量数を切り替えるSIM測定と、スキャン測定による質量走査の途中でSIM測定を実行するスキャン/SIM同時測定と、を選択的に実行可能なクロマトグラフ質量分析装置において、 a)予め作成された、化合物の種類、該化合物の標準的な保持時間、及び該化合物を特徴付ける質量数を一覧表とする化合物テーブルを、表示部の画面上に表示する表示制御手段と、 b)表示された前記化合物テーブルの中でスキャン/SIM同時測定を実行したい化合物をオペレータが選択するための選択手段と、 c)前記選択手段により選択された1乃至複数の化合物の保持時間に対しその前後にそれぞれ規定の時間幅を設定してその時間範囲でスキャン/SIM同時測定を行い、その以外の時間範囲ではスキャン測定又はSIM測定を実行するように測定条件テーブルを作成する測定条件テーブル作成手段と、 を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。

IPC (1件)：

G01N 27/62

FI (3件)：

G01N27/62 Y ,  G01N27/62 C ,  G01N27/62 X

Fターム (10件)：

2G041CA01 ,  2G041DA13 ,  2G041EA04 ,  2G041EA06 ,  2G041GA03 ,  2G041GA13 ,  2G041GA29 ,  2G041HA01 ,  2G041MA04 ,  2G041MA05

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-236693   出願人：株式会社島津製作所