表面欠陥検出方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴江武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-167129
公開番号（公開出願番号）：特開2000-002668
出願日： 1998年06月15日
公開日（公表日）： 2000年01月07日
要約：

【要約】【課題】熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯の表面欠陥を高い精度で検出する。【解決手段】本発明は、熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯1の表面画像を光学系20で撮影して、この撮影した表面画像に基づいて金属帯の表面に存在する欠陥を検出する表面欠陥検出方法に適用される。そして、金属帯の表面画像を撮像する光学系20の製造ライン上における搬送方向の位置を、該当位置を搬送される金属帯の表面温度がこの金属帯の表面酸化物の変態温度以上である位置に設定している。

請求項（抜粋）：

熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯の表面画像を光学系で撮影して、この撮影した表面画像に基づいて前記金属帯の表面に存在する欠陥を検出する表面欠陥検出方法において、前記金属帯の表面画像を撮像する光学系の製造ライン上における搬送方向の位置を、該当位置を搬送される前記金属帯の表面温度がこの金属帯の表面酸化物の変態温度以上である位置に設定したことを特徴とする表面欠陥検出方法。

IPC (2件)：

G01N 21/89 , B21C 51/00

FI (2件)：

G01N 21/89 B , B21C 51/00 P

Fターム (8件)：

2G051AA37 , 2G051AB07 , 2G051AC15 , 2G051BB01 , 2G051CA04 , 2G051CA06 , 2G051DA06 , 2G051FA04

引用特許：

審査官引用 (2件)

表面欠陥検査方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-249610 出願人：川崎製鉄株式会社
特開昭53-128381

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