特許

J-GLOBAL ID：200903052018767509

クラッタ排除のための多重パルス、多重反射、モダル距離測定処理システム

発明者： デイビッド・フィンク ,  モーリス・ハルモス ,  デイビッド・ゴーラン
出願人/特許権者： エイチイー・ホールディングス・インコーポレーテッド・ディービーエー・ヒューズ・エレクトロニクス
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-113164
公開番号（公開出願番号）：特開平10-068775
出願日： 1997年04月30日
公開日（公表日）： 1998年03月10日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、クラッタ排除特性が向上された、ライフル銃でも使用できるようなレーザ測距システムを提供することを目的とする。【解決手段】 複数の連続したビームパルスを発生するビーム発生手段と、ビームパルスにより照射された目標物から反射された複数の反射ビームを検出して、反射ビームを示すアナログ反射信号を発生するビーム検出手段24と、各距離ビンがシステムからの距離の範囲を表わしている第1の一連の距離ビンを規定するカウント表を含んでいるアナログ反射信号を処理する処理手段34とを具備しており、各ビームパルスに対して、処理手段34がアナログ反射信号がそのビン内の特定の条件を満たす各距離ビンにカウントを加算することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

複数の連続したビームパルスを発生するビーム発生手段と、ビームパルスにより照射された目標物から反射された複数の反射ビームを検出して、反射ビームを示すアナログ反射信号を発生するビーム検出手段と、各距離ビンがシステムからの距離の範囲を表わしている第1の一連の距離ビンを規定するカウント表を含んでいるアナログ反射信号を処理する処理手段とを具備しており、ビームパルスのそれぞれに対して、処理手段がアナログ反射信号がそのビン内の特定の条件を満たす各距離ビンにカウントを加算することを特徴とする求める目標物までの距離を決定するシステム。

IPC (3件)：

G01S 17/10 ,  G01B 11/00 ,  G01S 7/48

FI (3件)：

G01S 17/10 ,  G01B 11/00 B ,  G01S 7/48 Z