特許
J-GLOBAL ID：200903052043700540
磁場発生源の推定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
磯村 雅俊
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-025007
公開番号（公開出願番号）：特開平5-220123
出願日： 1992年02月12日
公開日（公表日）： 1993年08月31日
要約：
【要約】【目的】 導電率が不均一である場合にも対応でき、かつ多大な計算時間をかけることなく、被検体内部の起電力の分布に応じた主電流分布を求めることができるようにする。【構成】 先ず測定磁場分布から被検体中の帰還電流を含む総合電流分布を求め、次にピクセルの各辺を1次元線路と考えた3次元立方格子網に置き換え、ピクセルの導電率から電流分布推定領域のアドミッタンス行列を求める。そして、主電流を線路に平行に挿入された電流源で表わし、先ず主電流分布の推定値を仮定し、アドミッタンス行列の逆行列から各節点の電位を求める。この結果と各ピクセルのアドミッタンスから帰還電流の分布を求め、総合電流から帰還電流の和の二乗誤差が最小になる主電流分布を最適推定値とする。
請求項（抜粋）：
被検体外部で測定した磁場から、被検体内部の磁場発生源を推定する推定方法において、上記被検体を複数個のセルに分割し、各セルのx,y,z方向の抵抗値を予め測定した被検体内部の導電率に関する情報から計算しておき、該被検体内部の起電力分布を電流源と仮定し、x,y,z方向の電流源強度推定値と上記抵抗値を用いて起電力分布に応じて生じる帰還電流を計算し、電流源電流と帰還電流の和のベクトルを全てのセルについて計算し、該ベクトルと磁場から求めた電流のベクトルの差の絶対値の二乗を計算したものの全てのセルに対しての総和を計算し、該総和を最小とする上記電流源強度推定値を被検体内部の起電力分布最適推定値とすることを特徴とする磁場発生源の推定方法。
IPC (4件)：
A61B 5/05
, G01R 33/00
, G01R 33/035
, G01R 33/10
