特許
J-GLOBAL ID:200903052073955446

単一モード光ファイバ内の非常に低いレベルの偏波モード分散(PMD)を高い解像度で測定する方法およびPMD測定装置を較正する方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 川口 義雄 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-535104
公開番号(公開出願番号):特表2000-510573
出願日: 1996年05月17日
公開日(公表日): 2000年08月15日
要約:
【要約】光源を有する偏波モード分散測定装置を備えるステップと、テストファイバを備えるステップと、安定な既知の偏波モード分散値を有する構造をテストファイバと直列に配置するステップと、光源からの光を構造およびテストファイバ中に伝送するステップと、ゼロ偏波モード分散値から離れてバイアスされた偏波モード分散測定装置を使用して、バイアスされた偏波モード分散値を測定するステップと、バイアスされた測定偏波モード分散値から光ファイバの偏波モード分散を決定するステップとを含む光ファイバの偏波モード分散(PMD)を高い解像度で測定する方法。
請求項(抜粋):
光源を有する偏波モード分散測定装置を用意するステップと、 テストファイバを用意するステップと、 安定な既知の偏波モード分散値を有する構造をテストファイバと直列に配置するステップと、 光源からの光を構造およびテストファイバ中に伝送するステップと、 ゼロ偏波モード分散値から離れてバイアスされた偏波モード分散測定装置を使用して、バイアスされた偏波モード分散値を測定するステップと、 バイアスされた測定偏波モード分散値から光ファイバの偏波モード分散を決定するステップとを含む光ファイバの偏波モード分散を高い解像度で測定する方法。
FI (2件):
G01M 11/02 K ,  G01M 11/02 J

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