特許
J-GLOBAL ID：200903052074563177
ゴム摩耗試験機
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
小川 信一
, 野口 賢照
, 斎下 和彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-267099
公開番号（公開出願番号）：特開2004-101484
出願日： 2002年09月12日
公開日（公表日）： 2004年04月02日
要約：
【課題】シリカのような導電性の低い配合物を含有するゴムであっても、高い精度で摩耗減量の測定を行うことが可能なゴム摩耗試験機を提供する。【解決手段】回転する円盤状の砥石4の外周面に円盤状のゴム試験片Gを回転させながら押し当てることによりゴム試験片Gを摩耗させるようにしたゴム摩耗試験機において、ゴム試験片Gに対して静電気を除去する静電気除去装置29を設置する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
回転する円盤状の砥石の外周面に円盤状のゴム試験片を回転させながら押し当てることにより該ゴム試験片を摩耗させるようにしたゴム摩耗試験機において、前記ゴム試験片に対して静電気を除去する静電気除去装置を設置したゴム摩耗試験機。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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