特許

J-GLOBAL ID：200903052113719511

刻印分離方法および光学部材検査装置

発明者： 中山 利宏 ,  原 正人 ,  杉浦 正之 ,  木田 敦
出願人/特許権者： 旭光学工業株式会社
代理人 (1件)： 松岡 修平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-175519
公開番号（公開出願番号）：特開平9-005247
出願日： 1995年06月19日
公開日（公表日）： 1997年01月10日
要約：

【要約】【目的】 光学部材を撮影して得られた入力画像から簡単な処理で刻印を正確に分離することができる刻印分離方法、および、この方法を利用した光学部材検査装置を提供することを目的とする。【構成】 画像処理装置40は、入力画像を2値化抽出する2値化抽出手段41、基準刻印図形の2値化画像を膨張させる膨張手段42、2値化入力画像と膨張された基準刻印図形とをAND演算して一次画像を生成する一次画像生成手段43、一次画像に含まれる図形から刻印画像を生成する刻印画像生成手段44、刻印画像を反転させる反転手段45、2値化された入力画像と反転された刻印画像とのANDをとることにより刻印分離画像を生成する刻印分離手段46、刻印画像と刻印分離画像とに基づいて光学部材の良否を判定する判定手段47を備える。

請求項（抜粋）：

刻印が形成された光学部材を撮影して得られた入力画像から刻印画像を分離する刻印分離方法であって、前記入力画像を2値化して刻印および欠陥に相当する図形を抽出する第1のステップと、欠陥がない基準刻印図形の2値化画像を膨張させる第2のステップと、2値化された前記入力画像と膨張された基準刻印図形とを画素単位で論理積をとることにより前記刻印図形とその近傍の欠陥とを含む一次画像を生成する第3のステップと、前記基準刻印図形の情報に基づいて前記一次画像に含まれる図形から刻印に連続しない欠陥図形を除去することにより刻印画像を生成する第4のステップと、2値化された前記入力画像から前記刻印画像を差し引いて刻印分離画像を生成する第5のステップとを備えることを特徴とする刻印分離方法。