特許

J-GLOBAL ID：200903052140477716

超音波探傷方法

発明者： 戸島 敏雄
出願人/特許権者： 株式会社クボタ
代理人 (1件)： 森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-201192
公開番号（公開出願番号）：特開平8-062189
出願日： 1994年08月26日
公開日（公表日）： 1996年03月08日
要約：

【要約】【目的】 超音波を用いて被検材を探傷する際に、エコー高さの測定によって実用上の問題なく探傷を行えるようにする。【構成】 超音波の送信部と受信部との間に被検材を挟み込み、この被検材を透過した超音波のB1波とB2波とを受信部にて受信し、B1波のエコー高さとB2波のエコー高さとの比を求め、この比の値によって被検材における欠陥の有無を判定する。【効果】 感度や被検材の表面状態の影響などはB1波とB2波とに等しく影響するため、両者のエコー高さの比とって割算することでその影響が取り除かれ、容易かつ正確に欠陥の有無を判定できる。

請求項（抜粋）：

超音波の送信部と受信部との間に被検材を挟み込み、この被検材を透過した超音波のB1波とB2波とを受信部にて受信し、B1波のエコー高さとB2波のエコー高さとの比を求め、この比の値によって被検材における欠陥の有無を判定することを特徴とする超音波探傷方法。