特許
J-GLOBAL ID：200903052165269999
ガスクロマトグラフ質量分析計およびガスクロマトグラフ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-114793
公開番号（公開出願番号）：特開平7-318552
出願日： 1994年05月27日
公開日（公表日）： 1995年12月08日
要約：
【要約】【目的】レーザー光もしくは赤外線を局所的に集光し、局所部分の汚染物等を脱離させ、前記脱離成分のみを分析できるGC/MSを提供することができる。【構成】粒子を脱離のため集光させたレーザー光6を用い、試料4の表面から脱離させた粒子をGCで成分分離し、そののち質量分析するGC/MS1において、前記脱離粒子を付着させる清浄な表面部材として試料室3の窓を用い、前記粒子を前記窓表面に吸着させたのち、前記試料4を試料室3外に取り出し、前記付着粒子を遊離させるため前記試料室3全体を加熱するようにし、前記遊離させた粒子をGC部に送りこむようにしたものである。
請求項（抜粋）：
粒子を脱離させる手段として集光させたレーザー光を用い、試料表面から脱離させた粒子をガスクロマトグラフ部で成分分離し、そののち質量分析するガスクロマトグラフ質量分析計において、前記脱離させた粒子を付着させる清浄な表面部材と、前記付着粒子を遊離させる加熱手段と、前記遊離させた粒子をガスクロマトグラフ部に送りこむ手段とを具備したことを特徴とするガスクロマトグラフ質量分析計。
IPC (2件)：
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