特許

J-GLOBAL ID：200903052189719812

物理量測定システム

発明者： 佐野 安一
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 森田 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-296865
公開番号（公開出願番号）：特開2001-116626
出願日： 1999年10月19日
公開日（公表日）： 2001年04月27日
要約：

【要約】【課題】 波長検出部の機械的な可動部分を不要にし、製造コストの低減、歩留まりの向上を図る。【解決手段】 測定光が入射される光ファイバに一以上の光ファイバブラッグ格子が形成され、各ブラッグ格子からの反射光の波長を検出して各光ファイバブラッグ格子の位置における物理量を測定する物理量測定システムにおいて、各光ファイバブラッグ格子FBG1〜FBG10からの反射光を、少なくとも二通りの制御電圧に応じて反射波長が変化する導波路ブラッグ格子WBG1〜WBG10に入射させ、これらによる反射光をフォトダイオードに入射させて前記各制御電圧に応じた光電流の比の対数に基づいて各FBGからの反射光の波長を測定する。

請求項（抜粋）：

測定光が入射される光ファイバに一以上の光ファイバブラッグ格子が形成され、各ブラッグ格子からの反射光の波長を検出して各光ファイバブラッグ格子の位置における物理量を測定する物理量測定システムにおいて、各ブラッグ格子からの反射光を、少なくとも二通りの制御電圧に応じて反射波長が変化する導波路ブラッグ格子に入射させ、この導波路ブラッグ格子の反射光を受光素子に入射させるとともに、この受光素子による、前記各制御電圧に応じた光電流の比の対数に基づいて各光ファイバブラッグ格子からの反射光の波長を測定することを特徴とする物理量測定システム。

IPC (3件)：

G01K 11/12 ,  G01L 1/24 ,  G01L 11/02

FI (3件)：

G01K 11/12 H ,  G01L 1/24 A ,  G01L 11/00 B

Fターム (4件)：

2F056VF03 ,  2F056VF12 ,  2F056VF16 ,  2F056VF20