特許
J-GLOBAL ID：200903052221540366
液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-042695
公開番号（公開出願番号）：特開平11-242239
出願日： 1998年02月25日
公開日（公表日）： 1999年09月07日
要約：
【要約】【課題】 検査工数を減らして製造リードタイムを短縮化することができるとともに、限られた基板スペース内に映像表示性能に寄与しないデッドスペースをなくして省スペース化することができ、かつ設備コストを低減することができる液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置を提供する。【解決手段】 1グループの検査端子群14に対して同一の装置を用いて、液晶表示装置自体の機能チェックとしての動作検査と、プロセスコントロールモニタとしてのTEG検査とを、1回の検査で済ませることにより、時間的、スペース的、コスト的に効率の良いポリシリコン薄膜トランジスタ基板の完成検査を行うことを可能とする。
請求項（抜粋）：
ポリシリコン薄膜トランジスタによる周辺駆動回路を内蔵した液晶表示装置の検査方法であって、前記周辺駆動回路の駆動信号入力端と駆動信号出力端とに接続して前記周辺駆動回路を検査するための周辺駆動回路検査端子群と、前記周辺駆動回路ではないTEG素子に接続して前記TEG素子を検査するためのTEG検査端子群とを、同一の検査端子群内に配置した検査端子を用い、前記周辺駆動回路の動作検査とTEG検査とを同時に行うことを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
IPC (2件)：
G02F 1/136 500
, G02F 1/1345
G02F 1/136 500
, G02F 1/1345
