特許
J-GLOBAL ID：200903052246563832
蛍光X線分析用試料調製方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
足立 勉 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-221650
公開番号（公開出願番号）：特開平11-064186
出願日： 1997年08月18日
公開日（公表日）： 1999年03月05日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、粉末試料の中に白金と合金を形成し易い物質が含まれていても白金るつぼを侵食しない蛍光X線分析用試料調製方法を提供することを目的とする。【解決手段】 白金るつぼ1内に融解剤を溶融・成形したブランクビード2を装入し、ブランクビード2の上面に粉末試料3を乗せ、粉末試料3を加熱酸化処理を行ない、加熱酸化処理を行なった粉末試料3をブランクビード2に溶け込ませ、ガラスビード試料5を調製することを特徴とする。こうすると、粉末試料3の中に白金と合金を形成し易い物質が含まれていても粉末試料3が完全酸化するから白金るつぼ1に接触しても白金るつぼ1は侵食されない。
請求項（抜粋）：
白金るつぼ内に融解剤を溶融・形成したブランクビードを装入し、該ブランクビードの上面に粉末試料を乗せ、該粉末試料を加熱酸化処理を行ない、加熱酸化処理を行なった粉末試料を前記ブランクビードに溶け込ませ、ガラスビード試料を調製することを特徴とする蛍光X線分析用試料調製方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 1/28 S
, G01N 23/223
