特許

J-GLOBAL ID：200903052250640094

マイクロコンピュータに於けるRAMアドレス・バスの結線テスト方法

発明者： 浅沼 健
出願人/特許権者： アマノ株式会社
代理人 (1件)： 矢島 正和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-286674
公開番号（公開出願番号）：特開平6-110723
出願日： 1992年09月30日
公開日（公表日）： 1994年04月22日
要約：

【要約】【目的】 マイクロコンピュータに於けるRAMアドレス・バスの結線テストを、特別な測定装置等を使用せずに簡単に、且つ、正確に行う。【構成】 アドレス・バス5のすべてがロウ状態(L)でアクセスされるメモリに特定データ「00」を書込み、次いで、テストしたいアドレス・バスのみがハイ状態(H)になるメモリに特定データ以外の任意データを書込んだ後、すべてロウ状態(L)でアクセスされるメモリの内容をチェックして結線の良否を判定する。

請求項（抜粋）：

ハードウエアがCPUとRAM並びにこれ等の間に介在されるアドレス・レコーダとアドレス・バス及びその他のデータ・バスによって構成されたマイクロコンピュータに於いて、上記アドレス・バスのすべてがロウ状態でアクセスされるメモリに所定のデータを書込み、次いで、テストしたいアドレス・バスのみがハイ状態になるメモリに上記所定データ以外の任意データを書込み、その後、すべてがロウ状態でアクセスされるメモリの内容をチェックして、その内容が上述した所定データであるか任意データであるかによって上記アドレス・バスの結線の良否を判定することを特徴とするマイクロコンピュータに於けるRAMアドレス・バスの結線テスト方法。