特許

J-GLOBAL ID：200903052276612773

検査装置

発明者： 辻 浩二
出願人/特許権者： 積水化学工業株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-310668
公開番号（公開出願番号）：特開平10-153558
出願日： 1996年11月21日
公開日（公表日）： 1998年06月09日
要約：

【要約】【課題】 装置の内部的および外部的な原因による異常を自己検査することができる検査装置を提供する。【解決手段】 瓦101を表す画像信号を受け取り、この画像信号に対して画像処理を行い、この画像処理データから瓦101の面積を検出し、この面積から、瓦101の良否を判定する判定装置4と、良品と判定された瓦101の面積を判定装置4から受け取ると、この面積を保持し、保持している瓦101のデータが所定数になると、それら瓦101の面積の分布を求め、あらかじめ設定された分布の基準値と、求められた面積の分布とを比較して、検査装置の異常を判定する検知装置5とを備える。

請求項（抜粋）：

検査の対象物を表す画像信号を受け取り、この画像信号に対して画像処理を行い、この画像処理データから対象物の物理量を検出し、この検出物理量から、対象物の良否を判定する判定部と、良品と判定された対象物の検出物理量を判定部から受け取り、この検出物理量を保持すると共に、保持している検出物理量が所定数になると、それら物理量の分布を求め、あらかじめ設定された分布の基準値と求められた物理量の分布とを比較して、検査装置の異常を判定する自己検査部とを備える検査装置。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/00 ,  G06T 7/00

FI (3件)：

G01N 21/88 J ,  G01B 11/00 H ,  G06F 15/62 400