特許
J-GLOBAL ID：200903052303218748
走行ストリップの表面疵検査方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高矢 諭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-306798
公開番号（公開出願番号）：特開平6-160302
出願日： 1992年11月17日
公開日（公表日）： 1994年06月07日
要約：
【要約】【目的】 ストリップの幅方向に一様でない、光学系や電気回路に起因するノイズに拘らず、SN比を限界まで高めて、軽度の欠陥信号の弁別を可能とする。【構成】 受光信号を微分処理した微分信号の、ストリップ幅方向のうねりを検出し、検出されたうねりに基づいて、前記微分信号又は閾値を補正して、前記うねりの影響を除く。
請求項（抜粋）：
走行しているストリップの表面に、幅方向に光を投影し、その反射光による受光信号を微分処理した後、閾値と比較して表面疵を検査する方法において、前記受光信号を微分処理した微分信号の、ストリップ幅方向のうねりを検出し、検出されたうねりに基づいて、前記微分信号又は閾値を補正して、前記うねりの影響を除いたことを特徴とする走行ストリップの表面疵検査方法。
IPC (2件)：
引用特許：
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